牛津仪器（Oxford）公司创建于1959 年，在X射线荧光镀层测厚仪技术领域拥有超过35年研发和制造经验，其生产的CMI900型X射线荧光镀层测厚仪，具有非破坏、非接触、多层合金测量、高重现性、高准确度等特点，厚度测量精度可达0.01微米；可检测元素范围从22号元素Ti到92号元素U；可同时测定5层镀层，同时测量15种元素；可做贵金属检测，如Au karat评价；可应用于材料和合金元素分析、材料鉴别和分类检测；可应用于液体样品分析，如镀液中的金属元素含量检测；广泛应用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，五金电镀，装饰件电镀，连接器电镀、钢丝绳电镀等多个行业，在镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 等各方面，从质量管理到不良品分析都有着广泛的应用。
 
CMI900型X射线荧光镀层测厚仪基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定；数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等；统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式；能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。